38DL PLUS 超声测厚仪
38DL PLUS是一款超声测厚仪。这款仪器可使用双晶探头对内部腐蚀的部件进行检测。
38DL PLUS超声测厚仪：
性能高、操作简便、坚固耐用、结果可靠
主要特性
可与双晶和单晶探头兼容。
宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
使用双晶探头进行腐蚀测厚。
穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
内部氧化层/沉积物软件选项。
对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
厚度、声速和渡越时间测量。
差分模式和缩减率模式。
时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
抵御恶劣环境的能力
简便操作的设计理念
户外显示设置，A扫描模式 室内显示设置，B扫描模式
数据记录器和PC机接口
机载DB栅格视图，带有3种可编程的颜色。
测量功能：穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、MIN/值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/MIN模式
主要技术规格
测量 |
双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的准确延时到**个回波之间的时间间隔。 |
穿透涂层测量模式 | 利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。 |
穿透漆层回波到回波测量模式 | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
单晶探头测量模式 | 模式1：激励脉冲与**个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟线回波与**个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 模式3：在激励脉冲之后，位于**个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 |
氧化层模式： | 可选。 |
多层模式： | 可选。 |
厚度范围 | 0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。 |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米 标准分辨率：0.01毫米 高分辨率（可选项）：0.001毫米 |
探头频率范围 | 标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） |
高穿透（可选项）： | 0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
一般规格 |
工作温度范围 | -10°C～50°C |
键区 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。 |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。 |
外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
重量 | 0.814公斤 |
电源 | AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。 |
锂离子电池供电时间 | 工作时间：最少12.6小时，一般14小时，最多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。 |
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显示 |
彩色透反VGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
检波 | 全波、RF波、正半波、负半波 |
输入/输出 |
USB | 1.0从接口。 |
RS-232 | 有。 |
存储卡 | 容量：2 GB外置MicroSD存储卡。 |
视频输出 | VGA输出标准。 |
内置数据记录器 |
数据记录器 | 38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。 |
文件名称、ID编码及注释 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。 |
文件结构 | 9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。 |
报告 | 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的最小值/值、最小值回顾、文件比较及报警报告。 |
